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      应力筛选型高低温冲击箱

      发布日期:2015-08-28 10:29:56

       应力筛选型高低温冲击试验箱

      应力筛选型高低温冲击箱为了仿真不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。

       

        应力筛选高低温冲击箱设备特点

       

      ◆ 可执行AMP(等均温变)、三箱冲击(TC)、两箱冲击(TS)、高温储存、低温储存功能

      ◆ 等均温速率可设定范围5℃~30℃(40℃)

      ◆ 满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求

      ◆ 采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行

      ◆ 除霜周期三天除霜一次,每次只需1小时完成

      ◆ 通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能

      ◆ 感测器放置测试区出(回)风口符合实验有效性

      ◆ 机台多处报警监测,配置无线远程报警功能 

       

        高低温冲击试验箱应用标准

       

      应力筛选型高低温冲击试验箱应用标准 

      1.GB/T 10589-1989低温试验箱技术条件

      2.GB/T 11158-1989 高温试验箱技术条件

      3.GB/T 10592-1989 高低温试验箱技术条件

      4.GB/T 2423.1-2001 试验A:低温试验方法

      5.GB/T 2423.2-2001试验B:高温试验方法 

      6.GB/T 2423.22-2002试验N:温度变化试验方法

      7.GJB150.3-1986高温试验

      8.GJB150.4-1986低温试验

       满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求

      产品&规范

      厂商名称

      高温

      低温

      温变率

      循环数

      循环时间

      备注

      MIL-STD-2164、GJB-1032-90
      电子产品应力筛选

      ——

      工作极限温度

      工作极限温度

      5℃/min

      10~12

      3h20min

      ——

      MIL-344A-4-16
      电子设备环境应力筛选

      设备或系统

      71℃

      -54℃

      5℃/min

      10

      —— ——

      MIL-2164A-19
      电子设备环境应力筛选方法

      ——

      工作极限温度

      工作极限温度

      10℃/min

      10

      ——

      驻留时间为内部达到指定温度10℃时

      NABMAT-9492
      美军海军制造筛选

      设备或系统

      55℃

      -53℃

      15℃/min

      10

      ——

      驻留时间为内部达到指定温度5℃时

      GJB/Z34-5.1.6
      电子产品定量环境应力筛选指南

      组件

      85℃

      -55℃

      15℃/min

      ≧25

      ——

      达到温度稳定的时间

      GJB/Z34-5.1.6
      电子产品定量环境应力筛选指南

      设备或系统

      70℃

      -55℃

      5℃/min

      ≧10

      ——

      达到温度稳定的时间

      笔记本电脑

      主板厂商

      85℃

      -40℃

      15℃/min

      —— —— ——

       

        BYR系列高低温冲击试验箱技术参数

       

      Models

      BYR-A

      BYR-B

      BYR-C

      BYR-D

      Inside Dimensions
      W x D x H cm

      40X35X35

      50X50X40

      60X50X50

      70X60X60

      Outside Dimensions
      W x D x H cm

      140X165X165

      150X200X175

      160X225X185

      170X260X193

      Precool/Preheat Range

      -00.00℃~-75.00℃/+60.00℃~+200.00℃
      Shocking Range -10.00℃~-65.00℃/+60.00℃~+150.00℃

      Time Range

      0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

      Resolution

      0.01℃/min

      Temperature Uniformity ±3.00℃以内(under℃3.00℃)
      Range of temperature variation(℃/min) +5℃~+30℃/min(+40℃)

      (Three boxes)range of box brushing

      -65℃~+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃)

      (Two boxes)range of box brushing

      -55℃~+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃)

       * 以上规格仅供参考,了解最新高低温冲击试验箱技术参数请联系宝昀通检测设备有限公司。

       

        高低温试验箱温度可控制速率列表

       

      TSR(斜率可控制)
      [5℃30 ℃/min]
       

      高低温试验箱温度表

       

       

      30℃/min→

      电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验

      28℃/min→

      LED汽车照明灯

      25℃/min→

      PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应

      24℃/min→

      光纤连接头

      20℃/min→

      IPC-9701 、覆晶技术的极端温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号 比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命

       

      17℃/min→

      MOTO

      15℃/min→

      IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶显示器 电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、 汽车引擎盖下环境)

      11℃/min→

      无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) 、IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

      10℃/min→

      通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试

      5℃/min→

      锡须温度循环试验

       

       

       

       应力筛选高低温冲击试验箱选型示意图

       

      BYS-225




      Low Temperature
          #3=-40℃-125℃ 
          #4=-55℃-125℃ 


      Lnner dimension:(W*D*H) 
              A=40*35*30cm
              B=50*40*40cm
              C=60*50*50cm
              D=70*60*60cm
              E=USTOMER SIZE



      应力筛选型高低温冷热冲击试验机系列




      BAOYT test equipment co.,ltd

       注:温湿度分布均度测试方法依照内箱离各边1/10距离有效空间量测(GB5170.18-57)

       

      应力筛选高低温冲击箱等温

      高低温箱核心验证分析

      高低温冷热冲击箱结构示意图

      上一个产品:低湿型恒温恒湿箱
      下一个产品:步入式恒温恒湿试验箱